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無(wú)損檢測(cè)儀微焦點(diǎn)X射線透視檢查裝置
- 更新日期:2024-11-11
- 訪問(wèn)次數(shù):734?
無(wú)損檢測(cè)儀微焦點(diǎn)X射線透視檢查裝置Xslicer SMX-6010是一款堅(jiān)直照射型x射線檢查設(shè)備,配備了生產(chǎn)的微焦點(diǎn)x射線發(fā)生器和高分辦率平板探測(cè)器。通過(guò)高清晰度和寬動(dòng)態(tài)范圍圖像,可以觀察到細(xì)微的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。此外,可以簡(jiǎn)單快速地進(jìn)行透視/CT模式切換,根據(jù)工作要求實(shí)施多種觀察。所覆蓋的檢查從體積不斷縮小的電子元件到密度日益提高的多層實(shí)裝基板。
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無(wú)損檢測(cè)儀微焦點(diǎn)X射線透視檢查裝置
一款堅(jiān)直照射型x射線檢查設(shè)備,配備了島津生產(chǎn)的微焦點(diǎn)x射線發(fā)生器和高分辦率平板探測(cè)器。通過(guò)高清晰度和寬動(dòng)態(tài)范圍圖像,可以觀察到細(xì)微的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。此外,可以簡(jiǎn)單快速地進(jìn)行透視/CT模式切換,根據(jù)工作要求實(shí)施多種觀察。Xslicer SMX-6010所覆蓋的檢查從體積不斷縮小的電子元件到密度日益提高的多層實(shí)裝基板。
傾斜CT拍攝的原理與特點(diǎn)
?可高倍放大拍攝板狀樣品
■ 傾斜CT
傾斜CT拍攝大型實(shí)裝板等時(shí)
因樣品在XY載物臺(tái)上,所以可移近X射線發(fā)生裝置,進(jìn)行高倍放大拍攝。
■ 直線CT
直線CT拍攝大型基板等時(shí)
如果為獲得高放大倍率而將樣品靠近X射線發(fā)生裝置側(cè),CT拍攝中樣品會(huì)與X射線互相干擾,從而無(wú)法進(jìn)行高倍放大攝影。
?觀察事例
如果是基板上的樣品,則不同于受樣品寬度影響的直線CT,傾斜CT可進(jìn)行高放大倍率攝影。
無(wú)損檢測(cè)儀微焦點(diǎn)X射線透視檢查裝置
系統(tǒng)構(gòu)成
方便維護(hù)的本公司自制X射線發(fā)生裝置與搭載各種安全機(jī)構(gòu)的系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)更低成本、更安全的使用.
X射線發(fā)生裝置:搭載了管電壓160kV·1μm分辨率 開(kāi)放管X射線發(fā)生裝置。實(shí)現(xiàn)高壓發(fā)生器的一體化,無(wú)需進(jìn)行高壓電纜維護(hù)。自動(dòng)調(diào)整功能,使更換燈絲更加簡(jiǎn)便。
※1μm分辨率:JIMA Chart測(cè)試
X射線檢出器:搭載300萬(wàn)像素平板檢出器。
5軸載物臺(tái)
除搭載樣品的載物臺(tái)的XYZ軸外,檢出器也會(huì)傾斜、旋轉(zhuǎn)。5軸聯(lián)動(dòng),支持所有角度的檢查。
X射線防護(hù)箱
屏蔽向設(shè)備外部泄漏的X射線(泄漏到外部的射線低于1μSv/h)。具有正面門(mén)扉鎖定機(jī)構(gòu), X射線照射時(shí),正面門(mén)扉無(wú)法打開(kāi)。同時(shí),具有聯(lián)鎖機(jī)構(gòu),門(mén)扉打開(kāi)的狀態(tài)下,5軸載物臺(tái)不移動(dòng)。
碰撞檢測(cè)傳感器
X射線檢出器的周圍裝有碰撞檢測(cè)傳感器,緊急時(shí)(樣品碰撞時(shí)),驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)停止工作。
配套
僅在AC200 V±10 % 1.5 kVA(接地電阻100Ω以下)的條件下可動(dòng)作。無(wú)需供應(yīng)空氣、冷卻水等。